最新的 Ultra Scan TM专利干涉仪

VERTEX 80及 VERTEX 80v均采用最新的真正准直的 UltraScan专利干涉仪，该干涉仪可实现极高的光谱分辨率。高精度的线性气动轴承及超高质量的光学反射镜保证了仪器达到最出色的灵敏度和稳定性。80系列适用于各种极限条件下的研究工作，如：高分辨率测试、超快速扫描、步进扫描及UV扩展谱区的测量。布鲁克公司独特的数字化 DigiTect TM数据采集专利技术有效防止外部信号干扰，确保了极佳的信噪比。

台式真空光谱仪

VERTEX 8Ov的全铸铝光学底座及全真空型光学台设计使谱仪具备了更高的稳定性。大气中的水汽吸收在真空环境下被消除，灵敏度及稳定性得到进一步提高。在远红外和太赫兹波段该特色尤为突出，并意义重大。结合最新的全自动分束器更换器(BMs-C)，用户无需打断真空、通过软件控制便能实现谱区的切换和扩展。

最宽的谱区扩展

VERTEX 80-80v结合不同的光学器件使谱区可覆盖太赫兹、远红外、中红外、近红外、可见

光直至紫外光区。预准直的光学器件和真正准直的 Ultra ScanTM专利干涉仪，让扩展谱区和仪器维护变得更加简单快捷。

最高的光谱分辨率

VERTEX 80-80V标配的光谱分辨率可达0.2cm-1(切趾函数)，能满足大多数常压气相和常温下测量需求。针对低温下的高端研究工作，如晶向研究、半导体材料或者低压下的气相分析

测量， VERTEX80系列可以提供优于0.06cm-1的高分辨率，这是全球商业化台式红外光谱仪

迄今为止达到的最高分辨率。在可见光区谱图的分辨能力已可超出300,000：1(见右图)。

全真空光学台设计

创新的光学设计成就了具有最高灵活性、稳定性和扩展外接能力的高端研究级全真空红外光

谱仪。其全真空的光学设计，使 VERTEX 80在中红外、近红外及远红外谱区具备最高的灵敏度，使用户无需再担心水蒸气吸收会干扰或覆盖谱图中极弱的特征信号。该真空谱仪已被应用于纳米科学领域，并成功获取低至千分之一表面覆盖率的单分子层薄膜的信息。

全自动分束器更换功能

全新推出的全自动分束器更换器(BMS-c)，实现了全软件操控谱区扩展且无需打断真空。该

更换器可同时容纳多达4种不同类型的分束器。其独一无二的功能使 VERTEX 80v真空谱仪占据行业领先地位，进一步降低了从太赫兹到紫外谱区扩展全程中分束器更换的难度。

最佳灵活性

VERTEX系列具备极佳灵活性，在行业同类仪器中居首位。主机周围右侧、前侧及左侧共有5个出光口，右侧及后侧共2个入光口。这个特色使得用户可以同时连接多种附件。例如，仪器后侧入光口联接同步辐射光源，同时右侧出光口联接偏振调制组件(PMA 50)，右前侧出光口联接红外光纤附件，左前侧联接辐射热测量仪以及左侧联接 HYPERION系列的傅立叶红外显微镜。其灵活性可见一斑。